真空衰减泄漏测试理论

2024-04-07 09:45

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A.1真空衰减泄漏测试是将供试包装暴露于外部真空来进行的。施加到包装的压力差使气体通过包装上的泄漏通道释出。如果包装内含有液体，真空度低于液体的汽化压,也将使泄漏通道中或其附近的液体挥发。在一个测试周期中,由一只或多只压力传感器监视测试腔中的压力升高,是由于包装内顶空气体和/或挥发液体通过包装上的泄漏向外迁移加背景噪声的结果所致。泄漏检测需要真空衰减超过背景噪声。背景噪声衰减可能是因包装暴露于真空下发生膨胀或测试腔内或测试系统管路中存有微量气体或水蒸气所致。通过对测试腔的设计改进、调节压力或时间参数,或在供试样品装入测试腔前将测试腔暴露于真空中一段时间可使背景噪声至最少。

A.2含透气屏障盖材的包装可物理罩住或堵住包装的透气屏障表面,使得气体通过透气屏障材料释出的量为最小后进行测试。透气屏障盖材上的缺陷不能被检测,但密封区或托盘自身上的缺陷能被检测。从透气屏障盖材包装产生的真空衰减,可能包括来自盖材与罩堵表面之间的气体所形成的背景噪声,或盖材与托盘密封结合处所通过的横向气流。

A.3典型的测试循环是,先将供试包装放入测试腔并罩住或堵住任何透气屏障包装表面。对闭合后的测试腔抽真空。在事先确定的时间段终点,使其达到初始日标真空,将测试腔与真空源隔离。经历一个短暂的平衡期后,在一个预先确定的测试时间内监测测试腔内的真空度。对于许多包装,从测试腔闭合到完成测试周期可能只需要几秒钟的时间。以下描述了测试周期的时间、压力以及泄漏测试接受准则等各种临界测试参数。图A.1示出了预期的有各种泄漏测试不通过模式的典型测试周期。

注:以下条文中所用的临界试验参数的术语可能与泄漏制造商用的术语不同,但定义保持一致。